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ADRESS 2.0 – Instrument für resonante unelastische Röntgenstreuung

Kurzfassung

Lieferung eines neuen Ultrahochvakuum-Instruments für resonante unelastische Röntgenstreuung (RIXS), bestehend aus einem RIXS-Spektrometer und einer RIXS-Probenkammer, für die Strahllinie ADRESS 2.0 an der Swiss Light Source 2.0 am Paul Scherrer Institut in Villigen PSI. Die Strahllinie deckt einen Energiebereich von 250 eV bis 1700 eV ab.

Wichtige Punkte

  • Das RIXS-Spektrometer muss mittels Luftkissen angehoben und auf einem Granitboden um die Probenkammer gedreht werden können.
  • Der Drehbereich muss mindestens 130° betragen.
  • Variable Polarisationssteuerung im Energiebereich von 250 eV bis 1700 eV.

Automatisch erstellt mit KI aus den simap-Daten, ohne Gewähr. Massgebend ist die Publikation auf simap.ch.

Beschreibung aus der Publikation

Für die Arbeiten an der Strahllinie ADRESS 2.0 für weiche Röntgenstrahlung an der Swiss Light Source 2.0 (SLS 2.0) des Paul Scherrer Instituts wird ein neues experimentelles UltraHochvakuum-Instrument für resonante unelastische Röntgestreuung (RIXS) benötigt, das aus einem RIXS-Spektrometer und einer RIXS-Probenkammer besteht. Die Strahllinie ADRESS 2.0 deckt einen Energiebereich von 250 eV bis 1700 eV mit variabler Polarisationssteuerung ab. Das RIXS-Spektrometer muss so konstruiert sein, dass es mittels Luftkissen angehoben und auf einem Granitboden um die RIXS-Probenkammer herum in einem Winkelbereich von ≥130° gedreht werden kann.

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Dies ist keine amtliche Veröffentlichung. Massgebend sind die auf der Plattform www.simap.ch veröffentlichten Daten. Quelle: simap.ch (Verein simap.ch).

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